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OptraSCAN 配備人工智能的數碼病理掃描儀 OS-SiA 獲得美國專利,可同時對組織區域進行掃描、索引和分析

加州聖荷西2022年5月24日 /美通社/ -- 領先的端到端數碼病理解決方案供應商 OptraSCAN® 宣佈其數碼病理掃描儀 OS-SiA 已獲得美國專利商標局授予美國專利 - No 2020/0334814 A1。OS-SiA 具有內置智能,可同時掃描、索引和分析病理樣本。這有利最終用戶在查看過程中閱覽整個投影片的掃描圖像,以及由疊加層顯示的已分析結果。

OptraSCAN 配備人工智能的數碼病理掃描儀 OS-SiA 獲得美國專利,可同時對組織區域進行掃描、索引和分析
OS-SiA: Digital Pathology Scanner with AI

該專利描述 OptraSCAN 發明的一項技術,其支援人工智能的數碼病理掃描儀 OS-SiA 可自動識別要掃描的標本,同時分析正在掃描的組織或細胞區域。OS-SiA 是業界首款支援人工智能的數碼掃描儀,將提供實時預測分析和可採取行動的見解。

OptraSCAN 創始人兼行政總裁 Abhi Gholap 表示:「目前,數碼病理切片掃描儀僅限於獲取部分或全部切片圖像,然後將其變為數碼圖像。我們的新一代掃描儀 OS-SiA 可同時進行掃描和分析,無需額外的處理應用程式。這項專利突出我們不斷努力改進數碼病理學解決方案的採用及支援病理學界。」

OS-SiA 可以嵌入其現有支援雲端的明場掃描儀系列,即 OS-Lite 和 OS-Ultra。自訂演算法在掃描時提供實時 ROI 檢測、IHC/HNE 標記的細胞定量,以及使用核心庫建立的形態測量。整個投影片圖像可以在本機/網絡/雲端的圖像查看器中看到。深度學習運算模組可讓掃描裝置自行學習。

OptraSCAN 醫學顧問兼英屬哥倫比亞大學病理學主席 Zu-Hua Gao 醫學博士表示:「這是我們加速採用數碼病理學所需的突破,同時掃描和分析將幫助病理學家作出更快的決策及改善患者的治療效果 。」

關於 OptraSCAN, Inc

OptraSCAN® 是 On-Demand Digital Pathology® 自選數碼病理學系統的先驅,專注於提供完全整合及經濟實惠的解決方案,在最大程度上提高您的投資回報及改善病理學服務的表現。OptraSCAN 是獲得 ISO 13485 認證的公司,以及為供體外診斷使用的全載玻片掃描儀獲得 CE 標誌,公司致力為各種規模、生產能力及位於各個地點的實驗室消除「數碼化」。

OptraSCAN 的端到端數碼病理學解決方案可透過自選或直接購買模式取得,可有效獲取全載玻片圖像、查看、儲存、即時分享、報告,以及提供人工智能及機器學習的圖像分析解決方案。在 LinkedIn 和 Twitter 上關注我們。

 

 

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※本文來自合作媒體 美通社 ,宜蘭新聞網 授權轉載※

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